sem 분석 썸네일형 리스트형 SEM 분석과 TEM 분석 차이, 전자현미경의 세계 전자현미경은 현대 과학 연구에서 필수적인 도구로 자리 잡았습니다. 특히, 주사전자현미경(SEM)과 투과전자현미경(TEM)은 다양한 분야에서 중요한 역할을 하고 있습니다. 오늘은 SEM과 TEM의 원리, 차이점, 그리고 각각의 장단점에 대해 자세히 알아보겠습니다. SEM(Scanning Electron Microscope) 분석 SEM의 원리주사전자현미경(SEM)은 전자 빔을 시료 표면에 주사하여 생성된 2차 전자(Secondary Electron)를 검출하여 이미지를 형성합니다. SEM은 주로 시료의 표면 구조를 고해상도로 관찰하는 데 사용됩니다. 전자 빔이 시료 표면에 충돌하면 다양한 신호가 발생하는데, 이 신호를 검출하여 시료의 표면 형상을 이미지화합니다. SEM의 장점-고해상도 이미지: S.. 더보기 이전 1 다음
